ZA-292W銳科絲熔斷測(cè)試儀電流200A可定制功能用途智能絲測(cè)試儀是一款用于小型熔斷器性能測(cè)試的用儀器,用于管熔斷時(shí)間、熔斷電流的檢測(cè),
滿足標(biāo)準(zhǔn)G 9364.1-2015 、GB 9364.3-2018相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中的熔斷、耐久性試驗(yàn)要求。
本儀器采用7寸顯示觸摸屏顯示和參數(shù)設(shè)置,采用ARM控制器進(jìn)行控制采集,試驗(yàn)電流高達(dá)200A的試驗(yàn)設(shè)備。
具有操作簡(jiǎn)便,智能可靠等特點(diǎn)。
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項(xiàng)目 |
要求及指標(biāo) |
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輸入電壓范圍 |
220V±10﹪,50Hz/60Hz |
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測(cè)試電流范圍 |
0.5~150A,1﹪RD±0.2﹪fs |
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測(cè)試開(kāi)路電壓精度 |
1﹪RD±0.2﹪fs |
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試驗(yàn)?zāi)J?/span> |
熔斷時(shí)間測(cè)試 M1和耐久性測(cè)試M2 |
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測(cè)試時(shí)間范圍
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M1 模式時(shí)間范圍:10mS--60分鐘 M2 模式時(shí)間范圍:10mS--100小時(shí) |
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耐久性時(shí)間設(shè)置 |
0~99H59M |
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次數(shù)設(shè)置 |
0~9999次 |
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時(shí)間分辨率 |
10ms |
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測(cè)試電流步 |
50mA~1A,可設(shè)置 |
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測(cè)試電流精度 |
M1 模式< ±0.4﹪SET + 50mA(‘SET’為設(shè)置數(shù)值), M2 模式<±0.5﹪SET + 100mA(‘SET’為設(shè)置數(shù)值) |
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測(cè)試時(shí)間精度 |
M1 模式< ±10mS+0.3﹪RD(‘RD’為實(shí)際工作時(shí)間數(shù)值), M2 模式<±10mS+0.5﹪RD(‘RD’為實(shí)際工作時(shí)間數(shù)值) |
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顯示方式 |
7 寸觸摸屏顯示 |
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控制方式 |
FPGA+ARM 控制 |
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其他 |
支持外接 U 盤(pán)拷貝試驗(yàn)數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)保存功能,免費(fèi)開(kāi)放通信接口及提供底層通信協(xié)議 |
同時(shí),如果傳輸通道中斷,從此點(diǎn)以后的后向散射光功率也降到零,根據(jù)反射傳輸回來(lái)的散射光的情況又可以判斷光纖斷點(diǎn)的位置和光纖的長(zhǎng)度。otdr就是通過(guò)測(cè)量被測(cè)光纖所產(chǎn)生的后向散射光,以及菲涅爾反射光來(lái)測(cè)量光纖的衰減特性,故障點(diǎn)、光纖長(zhǎng)度、接頭損耗等光特性,并能以軌跡的形式顯示到顯示器。曲線故障測(cè)試實(shí)例分析故障判斷及類型。主要有兩類:全程損耗增大和中斷。光纜線路損耗增大和中斷的原因歸納起來(lái)有如下幾點(diǎn):有彎曲和微彎曲。由于市場(chǎng)需求,電源模塊越來(lái)越追求寬電壓輸入,寬電壓輸入就會(huì)導(dǎo)致供電電流隨輸入電壓變化而變化,為了高電壓和低電壓輸入的情況下,都能獲得恒定的供電電流,在輸入端加一個(gè)恒流電路,以獲得性能的一致性。理想的恒流源理想的恒流源是電流不隨輸入電壓的變化而變化,不受環(huán)境溫度的影響,內(nèi)阻無(wú)窮大。實(shí)際中的恒流電路跟理想的還是存在差距,所以要根據(jù)實(shí)際應(yīng)用選取合適的恒流源電路。幾種簡(jiǎn)單的恒流源介紹由兩個(gè)三極管組成的恒流源電路,如電路。 http://www.xcy100.com