ZA-327C銳科管熔斷測(cè)試儀電流150A可定制功能用途智能絲測(cè)試儀是一款用于小型熔斷器性能測(cè)試的用儀器,用于管熔斷時(shí)間、熔斷電流的檢測(cè),
滿足標(biāo)準(zhǔn)G 9364.1-2015 、GB 9364.3-2018相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中的熔斷、耐久性試驗(yàn)要求。
本儀器采用7寸顯示觸摸屏顯示和參數(shù)設(shè)置,采用ARM控制器進(jìn)行控制采集,試驗(yàn)電流高達(dá)200A的試驗(yàn)設(shè)備。
具有操作簡(jiǎn)便,智能可靠等特點(diǎn)。
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項(xiàng)目 |
要求及指標(biāo) |
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輸入電壓范圍 |
220V±10﹪,50Hz/60Hz |
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測(cè)試電流范圍 |
0.5~150A,1﹪RD±0.2﹪fs |
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測(cè)試開路電壓精度 |
1﹪RD±0.2﹪fs |
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試驗(yàn)?zāi)J?/span> |
熔斷時(shí)間測(cè)試 M1和耐久性測(cè)試M2 |
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測(cè)試時(shí)間范圍
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M1 模式時(shí)間范圍:10mS--60分鐘 M2 模式時(shí)間范圍:10mS--100小時(shí) |
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耐久性時(shí)間設(shè)置 |
0~99H59M |
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次數(shù)設(shè)置 |
0~9999次 |
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時(shí)間分辨率 |
10ms |
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測(cè)試電流步 |
50mA~1A,可設(shè)置 |
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測(cè)試電流精度 |
M1 模式< ±0.4﹪SET + 50mA(‘SET’為設(shè)置數(shù)值), M2 模式<±0.5﹪SET + 100mA(‘SET’為設(shè)置數(shù)值) |
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測(cè)試時(shí)間精度 |
M1 模式< ±10mS+0.3﹪RD(‘RD’為實(shí)際工作時(shí)間數(shù)值), M2 模式<±10mS+0.5﹪RD(‘RD’為實(shí)際工作時(shí)間數(shù)值) |
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顯示方式 |
7 寸觸摸屏顯示 |
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控制方式 |
FPGA+ARM 控制 |
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其他 |
支持外接 U 盤拷貝試驗(yàn)數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)保存功能,免費(fèi)開放通信接口及提供底層通信協(xié)議 |
在考慮上述問(wèn)題之后就能確定選用何種類型的傳感器,然后再考慮傳感器的具體性能指標(biāo)。頻率響應(yīng)特性五傳感器的頻率響應(yīng)特性決定了被測(cè)量的頻率范圍,必須在允許頻率范圍內(nèi)保持不失真的測(cè)量條件,實(shí)際上傳感器的響應(yīng)總有—定延遲,希望延遲時(shí)間越短越好。傳感器的頻率響應(yīng)高,可測(cè)的信號(hào)頻率范圍就寬,而由于受到結(jié)構(gòu)特性的影響,機(jī)械?系統(tǒng)的慣性較大,因有頻率低的傳感器可測(cè)信號(hào)的頻率較低。在動(dòng)態(tài)測(cè)量中,應(yīng)根據(jù)信號(hào)的特點(diǎn)(穩(wěn)態(tài)、瞬態(tài)、隨機(jī)等)響應(yīng)特性,以免產(chǎn)生過(guò)火的誤差靈敏度的選擇通常,在傳感器的線性范圍內(nèi),希望傳感器的靈敏度越高越好。比如常見的PCIE,其單端阻抗就是要求是50Ω。這就是這個(gè)50Ω的由來(lái),也是因?yàn)槿绱?,示波器上才?huì)有個(gè)50Ω阻抗檔位。其作用就是用來(lái)匹配50Ω系統(tǒng)中的傳輸線。示波器的負(fù)載效應(yīng)有朋友可能會(huì)有疑惑,按上面的論述,豈不是50Ω的匹配比1MΩ的匹配要好,那還要1MΩ阻抗干什么呢?這就涉及到了示波器的負(fù)載效應(yīng)問(wèn)題了。相信大家都有這種經(jīng)歷,調(diào)試一個(gè)有問(wèn)題的電路,想看看波形,結(jié)果接上電路就正常了,拿開電路就又出問(wèn)題。 http://www.xcy100.com