ZA-327C銳科管熔斷時(shí)間測(cè)試儀電流200A可定制使用智能絲測(cè)試儀是一款用于小型熔斷器性能測(cè)試的用儀器,用于管熔斷時(shí)間、熔斷電流的檢測(cè),
滿足標(biāo)準(zhǔn)G 9364.1-2015 、GB 9364.3-2018相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中的熔斷、耐久性試驗(yàn)要求。
本儀器采用7寸顯示觸摸屏顯示和參數(shù)設(shè)置,采用ARM控制器進(jìn)行控制采集,試驗(yàn)電流高達(dá)200A的試驗(yàn)設(shè)備。
具有操作簡(jiǎn)便,智能可靠等特點(diǎn)。
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項(xiàng)目 |
要求及指標(biāo) |
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輸入電壓范圍 |
220V±10﹪,50Hz/60Hz |
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測(cè)試電流范圍 |
0.5~150A,1﹪RD±0.2﹪fs |
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測(cè)試開(kāi)路電壓精度 |
1﹪RD±0.2﹪fs |
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試驗(yàn)?zāi)J?/span> |
熔斷時(shí)間測(cè)試 M1和耐久性測(cè)試M2 |
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測(cè)試時(shí)間范圍
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M1 模式時(shí)間范圍:10mS--60分鐘 M2 模式時(shí)間范圍:10mS--100小時(shí) |
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耐久性時(shí)間設(shè)置 |
0~99H59M |
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次數(shù)設(shè)置 |
0~9999次 |
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時(shí)間分辨率 |
10ms |
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測(cè)試電流步 |
50mA~1A,可設(shè)置 |
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測(cè)試電流精度 |
M1 模式< ±0.4﹪SET + 50mA(‘SET’為設(shè)置數(shù)值), M2 模式<±0.5﹪SET + 100mA(‘SET’為設(shè)置數(shù)值) |
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測(cè)試時(shí)間精度 |
M1 模式< ±10mS+0.3﹪RD(‘RD’為實(shí)際工作時(shí)間數(shù)值), M2 模式<±10mS+0.5﹪RD(‘RD’為實(shí)際工作時(shí)間數(shù)值) |
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顯示方式 |
7 寸觸摸屏顯示 |
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控制方式 |
FPGA+ARM 控制 |
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其他 |
支持外接 U 盤拷貝試驗(yàn)數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)保存功能,免費(fèi)開(kāi)放通信接口及提供底層通信協(xié)議 |
Pt100RTD概述Pt100RTD是一種鉑質(zhì)RTD傳感器,可在很寬的溫度范圍內(nèi)提供的性能。鉑是一種屬,作為常用的RTD材料具有的電阻率,能實(shí)現(xiàn)小尺寸的傳感器。由鉑制成的RTD傳感器有時(shí)被稱為鉑電阻溫度計(jì)或PRT。Pt100RTD在0℃時(shí)阻抗為100Ω,每1℃的溫度變化大約會(huì)引起0.385Ω的電阻變化。當(dāng)處于可用溫度范圍的極限時(shí),電阻為18.51Ω(在-200℃時(shí))或390.48Ω(在850℃時(shí))。多數(shù)頻譜儀用戶都知道,測(cè)量高出頻譜儀顯示平均噪聲電平20dB以內(nèi)的信號(hào)都會(huì)受儀器本底噪聲的影響,而使得測(cè)量結(jié)果變差。頻譜儀測(cè)量的結(jié)果是RF輸入信號(hào)頻譜和儀器噪聲頻譜的疊加,是不是可以將頻譜儀本底噪聲測(cè)量出來(lái),然后從頻譜儀每次測(cè)量結(jié)果中刪減掉本底噪聲呢?本底噪聲擴(kuò)展是一種利用已知的儀器的本底噪聲提高測(cè)量精度的校正算法,就是一種將前端的本底噪聲減掉,只分析和顯示輸入信號(hào)的功率電平的測(cè)量方法,不僅可以提高測(cè)量精度,也可以擴(kuò)展動(dòng)態(tài)范圍。 http://www.xcy100.com