廈門鐵碳質(zhì)量測(cè)試儀 電解槽組裝質(zhì)量測(cè)試儀ZA-500T中銳使用
鐵碳質(zhì)量測(cè)試儀是一種精密的屬材料檢測(cè)儀器,可快速、準(zhǔn)確地測(cè)定屬鐵碳合的含碳量,適用于鋼鐵、冶、鑄造、機(jī)械等行業(yè)的碳含量測(cè)量。儀器采用電弧燃燒法進(jìn)行測(cè)量,具有測(cè)量精度高、操作簡(jiǎn)便的特點(diǎn)。
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可靠性是對(duì)產(chǎn)品耐久力的測(cè)量,我們主要典型的IC產(chǎn)品的生命周期可以用一條浴缸曲線來表示。集成電路的失效原因大致分為三個(gè)階段:階段被稱為早期失效期,這個(gè)階段產(chǎn)品的失效率快速下降,造成失效的原因在于IC設(shè)計(jì)和生產(chǎn)過程中的缺陷;第二階段被稱為偶然失效期,這個(gè)階段產(chǎn)品的失效率保持穩(wěn)定,失效的原因往往是隨機(jī)的,比如溫度變化等等;第三階段被稱為損耗失效期,這個(gè)階段產(chǎn)品的失效率會(huì)快速升高,失效的原因就是產(chǎn)品的長(zhǎng)期使用所造成的老化等。一丁點(diǎn)劇化學(xué)品的泄漏足以致人死亡,足以毀掉整個(gè)原生態(tài)。有鑒于此,有化學(xué)品在工業(yè)制造中日漸被禁止。但在現(xiàn)階段的采礦業(yè)中,和硫酸等有化學(xué)品還是廣泛地使用。于是,如何在極短的時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)有化學(xué)品的泄漏,是監(jiān)測(cè)儀器制造商的使命,也是他們的商機(jī)。近加拿大分析IntelliView開發(fā)出用于監(jiān)控地上設(shè)施的DCAM?雙攝像頭分析解決方案。IntelliView利用FLIRA65熱像儀,是為礦開采行業(yè)打造了一款根據(jù)溫度和發(fā)射率差異發(fā)現(xiàn)表面液體泄漏的先進(jìn)解決方案。
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