攀枝花ZA-517T中岸智能型回路電阻測(cè)試儀檢定裝置
智能型回路電阻測(cè)試儀是一款為測(cè)試電力設(shè)備的回路電阻而設(shè)計(jì)的數(shù)字測(cè)試系統(tǒng),具有精度高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)。該儀器采用的無(wú)線通訊,通過(guò)高速數(shù)據(jù)接口實(shí)時(shí)采集數(shù)據(jù),可大大提高測(cè)試的效率。該儀有內(nèi)置電池和外部電源兩種供電方式,適合不同場(chǎng)合使用。是測(cè)試電力設(shè)備回路電阻的理想工具。
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你知道現(xiàn)在的手機(jī)處理器已經(jīng)發(fā)展為8核和10核處理器了嗎?這些處理器需要多個(gè)內(nèi)核來(lái)同時(shí)運(yùn)行很多應(yīng)用程序,操作游戲和高質(zhì)量流的圖形處理器。這些全新的處理器需要很高的電流(有時(shí)超過(guò)10A),并且需要以盡可能快的速度傳送這個(gè)電流。由于不斷增長(zhǎng)的內(nèi)核數(shù)量,為這些處理器供電的器件的屬性也在發(fā)生著變化。在滿足小外形尺寸需要的同時(shí),需要真正的業(yè)內(nèi)進(jìn)的電源。TI有幾款為手機(jī)處理器供電的降壓轉(zhuǎn)換器,諸如TPS62180、LP8758和TPS62184。它的腐蝕速度要比NSS試驗(yàn)快3倍左右。銅加速鹽霧試驗(yàn)(CASS試驗(yàn))它是外新近發(fā)展起來(lái)的一種快速鹽霧腐蝕試驗(yàn),試驗(yàn)溫度為50,鹽溶液中加入少量銅鹽—氯化銅,強(qiáng)烈誘發(fā)腐蝕。它的腐蝕速度大約是NSS試驗(yàn)的8倍。交變鹽霧試驗(yàn)(CCT)實(shí)際上是中性鹽霧試驗(yàn)加恒定濕熱試驗(yàn)。它主要用于空腔型的整機(jī)產(chǎn)品,通過(guò)潮態(tài)環(huán)境的滲透,使鹽霧腐蝕不但在產(chǎn)品表面產(chǎn)生,也在產(chǎn)品內(nèi)部產(chǎn)生。它是將產(chǎn)品在鹽霧和濕熱兩種環(huán)境條件下交替轉(zhuǎn)換,后考核整機(jī)產(chǎn)品的電性能和機(jī)械性能有無(wú)變化。
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