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不需要“先進(jìn)”數(shù)字測試性能；但對于測試靈活性和功能的需求較大的情況，高速數(shù)字模塊則尤其重要。測試系統(tǒng)和相關(guān)的數(shù)字子系統(tǒng)可以支持傳統(tǒng)和當(dāng)代電子組件組合的測試，因為這種測試系統(tǒng)被廣泛用于現(xiàn)場服務(wù)產(chǎn)品以及在工廠中測試新代產(chǎn)品。更具體地說，現(xiàn)場部署的測試系統(tǒng)（中所示的VIPER/T）具有尺寸和功耗的附加限制—要求系統(tǒng)具有便攜式，并且具有高可靠性。：VIPER/T測試系統(tǒng)數(shù)字子系統(tǒng)相關(guān)的功能包括：支持至少50MHz的矢量速率，每個引腳的時序，多個時間集和靈活的定序器。從應(yīng)用的角度來看，雖然一些性能無法測試，但可根據(jù)規(guī)格書極限測試條件測試電源穩(wěn)定可靠性，如電壓、溫度、負(fù)載等；也可根據(jù)規(guī)格書如推薦電路，測試模塊浪涌抗擾度、靜電抗擾度、脈沖群抗擾度等；還可測試模塊持續(xù)短路、重復(fù)開關(guān)機(jī)等。推薦電路當(dāng)然，這些測試本身屬于破壞性的，會造成模塊一定的損傷，測試完后不應(yīng)再使用在產(chǎn)品上。容性負(fù)載和過流保護(hù)電源容性負(fù)載能力越大，常意味著限流點設(shè)置較高。在開機(jī)和輸出短路時通常導(dǎo)致較高的電應(yīng)力，甚至使變壓器飽和。
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