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南京ZA-320F中岸蓄電池內(nèi)阻儀校準(zhǔn)裝置
我公司業(yè)生產(chǎn)銷售各種計(jì)量校準(zhǔn)設(shè)備，詳細(xì)資料請聯(lián)系青島華能遠(yuǎn)見電氣有限公司業(yè)務(wù)人員。
多數(shù)頻譜儀用戶都知道，測量高出頻譜儀顯示平均噪聲電平20dB以內(nèi)的信號都會受儀器本底噪聲的影響，而使得測量結(jié)果變差。頻譜儀測量的結(jié)果是RF輸入信號頻譜和儀器噪聲頻譜的疊加，是不是可以將頻譜儀本底噪聲測量出來，然后從頻譜儀每次測量結(jié)果中刪減掉本底噪聲呢？本底噪聲擴(kuò)展是一種利用已知的儀器的本底噪聲提高測量精度的校正算法，就是一種將前端的本底噪聲減掉，只分析和顯示輸入信號的功率電平的測量方法，不僅可以提高測量精度，也可以擴(kuò)展動態(tài)范圍。瑞利散射是光纖材料本身固有的性質(zhì)，由于光纖內(nèi)部含有的雜質(zhì)、纖核添加物等產(chǎn)生漫反射，其中部分向后散射形成瑞利背向散射，光纖整個長度上都呈現(xiàn)這種現(xiàn)象。而菲涅爾反射它只是發(fā)生在光纖接觸到空氣時或發(fā)生在諸如機(jī)械的連接接縫處。光纖損耗的測量所依據(jù)的主要是瑞利散射原理;光纖斷點(diǎn)的測量所依據(jù)的主要原理是菲涅爾反射。瑞利散射損耗可用下式進(jìn)行近似計(jì)算：式中，λ以um為單位，B是與石英和摻雜材料有關(guān)的常數(shù)。
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