" alt="青島中岸銳科智能技術(shù)有限公司">
ZA-571A銳科管熔斷時(shí)間測(cè)試儀電流200A可定制生產(chǎn)廠家智能絲測(cè)試儀是一款用于小型熔斷器性能測(cè)試的用儀器，用于管熔斷時(shí)間、熔斷電流的檢測(cè)，
滿足標(biāo)準(zhǔn)G 9364.1-2015 、GB 9364.3-2018相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中的熔斷、耐久性試驗(yàn)要求。
本儀器采用7寸顯示觸摸屏顯示和參數(shù)設(shè)置，采用ARM控制器進(jìn)行控制采集，試驗(yàn)電流高達(dá)200A的試驗(yàn)設(shè)備。
具有操作簡(jiǎn)便，智能可靠等特點(diǎn)。
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項(xiàng)目 |
要求及指標(biāo) |
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輸入電壓范圍 |
220V±10﹪，50Hz/60Hz |
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測(cè)試電流范圍 |
0.5~150A，1﹪RD±0.2﹪fs |
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測(cè)試開(kāi)路電壓精度 |
1﹪RD±0.2﹪fs |
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試驗(yàn)?zāi)Ｊ?/span> |
熔斷時(shí)間測(cè)試 M1和耐久性測(cè)試M2 |
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測(cè)試時(shí)間范圍
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M1 模式時(shí)間范圍:10mS--60分鐘 M2 模式時(shí)間范圍：10mS--100小時(shí) |
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耐久性時(shí)間設(shè)置 |
0~99H59M |
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次數(shù)設(shè)置 |
0~9999次 |
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時(shí)間分辨率 |
10ms |
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測(cè)試電流步 |
50mA~1A，可設(shè)置 |
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測(cè)試電流精度 |
M1 模式< ±0.4﹪SET + 50mA（‘SET’為設(shè)置數(shù)值）， M2 模式<±0.5﹪SET + 100mA（‘SET’為設(shè)置數(shù)值） |
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測(cè)試時(shí)間精度 |
M1 模式< ±10mS+0.3﹪RD（‘RD’為實(shí)際工作時(shí)間數(shù)值）， M2 模式<±10mS+0.5﹪RD（‘RD’為實(shí)際工作時(shí)間數(shù)值） |
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顯示方式 |
7 寸觸摸屏顯示 |
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控制方式 |
FPGA+ARM 控制 |
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其他 |
支持外接 U 盤(pán)拷貝試驗(yàn)數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)保存功能，免費(fèi)開(kāi)放通信接口及提供底層通信協(xié)議 |
信號(hào)發(fā)生器生成波形的方式可以大致分為兩種DDS模式和Arb模式。兩種模式都具有優(yōu)缺點(diǎn)。DDS模式具有低成本、低功耗、高分辨率和頻率轉(zhuǎn)換快等優(yōu)點(diǎn)，適合輸出調(diào)頻、調(diào)相、掃頻信號(hào)。但是DDS可能會(huì)丟失一些數(shù)據(jù)點(diǎn)。另外一種方式就是Arb模式，可以理解為真任意波形發(fā)生器的意思。使用Arb模式可以編輯真實(shí)的復(fù)雜的任意波形信號(hào)。無(wú)論是上述兩種方式的哪一種或是一些新推出的其他方式的波形生成方法，采樣（時(shí)鐘）速率和分辨率都是非常關(guān)鍵的參數(shù)。時(shí)間交錯(cuò)可使用多個(gè)相同的ADC（文中雖然僅討論了ADC，但所有原理同樣適用于DAC的時(shí)間交錯(cuò)特性），并以比每一個(gè)單數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器工作采樣速率更高的速率來(lái)處理常規(guī)采樣數(shù)據(jù)序列。簡(jiǎn)單說(shuō)來(lái)，時(shí)間交錯(cuò)（IL）由時(shí)間多路復(fù)用M個(gè)相同的ADC并聯(lián)陣列組成。如圖1所示。這樣可以得到更高的凈采樣速率fs（采樣周期Ts=1/fs），哪怕陣列中的每一個(gè)ADC實(shí)際上以較低的速率進(jìn)行采樣（和轉(zhuǎn)換），即fs/M。舉例而言，通過(guò)交錯(cuò)四個(gè)10位/100MSPSADC，理論上可以實(shí)現(xiàn)10位/400MSPSADC。 http://www.xcy100.com
QQ聯(lián)系